当前位置:首页 > 文献互助 > 互助详情

The Role of Oxygen Vacancy and Hydrogen on the PBTI Reliability of ALD IGZO Transistors and Process Optimization复制

用户NryHlAVH_iBM 1小时前 9 10 已完结

1. 当前求助状态已完结, 请及时下载应助文件

2. 系统将在 2026-01-27 13:19:27 删除文件

注: 所有应助的资源仅供学习交流使用, 不得违反相关法律法规

互助时间线

2026-01-20 13:20:34 [完结求助]

楼主确认了书香四溢应助的文件是正确的, 求助状态变成 已完结

2026-01-20 13:19:27 [上传文件]

书香四溢上传了文件(pdf 3.89 MB), 求助状态变成 待确认

2026-01-20 13:19:19 [发起求助]

最新发布的求助