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Alpha Emission Rate Characterization and Risk Evaluation of Substrate Materials Used in Memory Packages复制

用户wNWatK5Onu60 15小时前 15 10 已完结

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DOI: 10.1109/iemt61324.2024.10875310复制

文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/10875310/复制

其他信息:

出版社: IEEE
作者: Chen Yu Huang; Chi Yung Chen; Chong Leong Gan; Tracy Tennamt

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2026-05-22 10:58:24 [发起求助]