Alpha Emission Rate Characterization and Risk Evaluation of Substrate Materials Used in Memory Packages
用户wNWatK5Onu60
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DOI: 10.1109/iemt61324.2024.10875310
文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/10875310/
其他信息:
出版社: IEEE
作者: Chen Yu Huang; Chi Yung Chen; Chong Leong Gan; Tracy Tennamt

