Quantum Efficiency Simulation and Analysis of Irradiated Complementary Metal-Oxide Semiconductor Image Sensors
用户ydeigrG4DijY
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文献链接: https://www.ingentaconnect.com/content/10.1166/jno.2022.3199
其他信息:
出版社: American Scientific Publishers
作者: Jing Fu; Lin Wen; Jie Feng; Ying Wei; Dong Zhou; Yu-Dong Li; Qi Guo