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Exploring the direction-dependency of conductive filament formation and oxygen vacancy migration behaviors in HfO2-based RRAM复制

用户Lz2LyWF0h8HA 1个月前 69 10 已完结

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DOI: 10.1039/D2CP05803K复制

文献链接: https://xlink.rsc.org/?DOI=D2CP05803K复制

其他信息:

出版社: Royal Society of Chemistry (RSC)
作者: Donglan Zhang; Jiong Wang; Qing Wu; Yong Du

互助时间线

2026-04-26 23:40:38 [完结求助]

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