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Enhanced Charge Transfer Efficiency Using Ring Vertical Transfer Gates in Backside Illuminated CMOS Image Sensor复制

用户ydeigrG4DijY 1天前 13 10 已关闭

DOI: 10.1109/vlsitsa60681.2024.10546447复制

文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/10546447/复制

其他信息:

出版社: IEEE
作者: Yu-Chieh Lee; Avishek Das; Yi Huang; Logeshwaran Venkatesapandian; C. W. Liu

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2025-06-05 10:46:34 [关闭求助]

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