Operation Scheme Optimizations to Achieve Ultrahigh Endurance (1010) in Flash Memory
用户CBKkXJHWL1xk
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文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/10682780/
其他信息:
出版社: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
作者: Yang Feng; Xinyi Guo; Chengcheng Wang; Yueran Qi; Junyu Zhang; Jing Liu; Xuepeng Zhan; Jixuan Wu; Jiezhi Chen
