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The Response Frequency of Interface Traps Using a Dual-Frequency Charge-Pumping Method and Its Correlation With 1/f Noise复制

用户ydeigrG4DijY 2小时前 9 10 求助中 帖子自动结束时间: 2025-08-19 19:55:13

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DOI: 10.1109/jeds.2025.3593374复制

文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/11098707/复制

其他信息:

出版社: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
作者: Yi Jiang; Luping Wang; Kai Chen; Rui Su; Luyu Yang; Dawei Gao; Junkang Li; Ran Cheng; Rui Zhang

互助时间线

2025-08-14 19:55:13 [发起求助]