Failure Analysis and Modeling of Blind Vias Crack in BGA-PCB Assemblies
用户wNWatK5Onu60
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DOI: 10.1109/icept59018.2023.10492404
文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/10492404/
其他信息:
出版社: IEEE
作者: Ying Shi; Shaohua Yang; Fugen Wu; Huafeng Dong

