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Transient Electrical-Thermal-Mechanical Coupling Model and Short-Circuit Failure Analysis of Wire-Bonded IGBT Module复制

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DOI: 10.1109/icept63120.2024.10668720复制

文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/10668720/复制

其他信息:

出版社: IEEE
作者: Renkuan Liu; Xiaorong Luo; Jie Wei; Yan Huo; Gaoqiang Deng; Yuxi Wei; Hui Li; Zeyu Duan; Xianping Chen

互助时间线

2026-01-15 11:14:37 [上传文件]

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