Failure Analysis Based on Vehicle-Grade Transient Voltage Suppression Diodes
用户wNWatK5Onu60
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DOI: 10.1109/icept63120.2024.10668412
文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/10668412/
其他信息:
出版社: IEEE
作者: Yiming Liu; Yao Lei; Xiaotong Guo; Jiping Yang; Zhiyong Luo; Chuan Yang

