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Behavior of Boron Implanted into n-Si (100) by Low-Energy (2 keV) Ion Implantation for a Shallow Junction复制

用户ydeigrG4DijY 4天前 34 10 求助中 帖子自动结束时间: 2025-10-04 11:48:35

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其他信息:

出版社: Korean Physical Society
作者: Sa-Kyun Rha; Youn-Seoung Lee; Won-Jun Lee; Min-Seok Jeon; Jun-Kwang Song; Myeung Hee Lee

互助时间线

2025-09-29 11:48:35 [发起求助]