Reliability Estimation and Failure Analysis of Multilayer Ceramic Chip Capacitors
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DOI: 10.1142/S0217979203018934
文献链接: https://www.worldscientific.com/doi/abs/10.1142/S0217979203018934
其他信息:
出版社: World Scientific Pub Co Pte Lt
作者: Seok Jun Yang; Jin Woo Kim; Dong Su Ryu; Myung Soo Kim; Joong Soon Jang

