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CV Characterization of Si/SiGe Heterostructures at Cryo Temperatures复制

ZHANHAO 1小时前 7 10 待确认 帖子自动结束时间: 2026-07-31 17:25:14

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DOI: 10.1109/irps48204.2025.10982705复制

文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/10982705/复制

其他信息:

出版社: IEEE
作者: F. Stampfl; C. Godfrin; S. Kubicek; S. Baudot; B. Raes; K. De Greve; A. Grill; M. Waltl

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