CV Characterization of Si/SiGe Heterostructures at Cryo Temperatures
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DOI: 10.1109/irps48204.2025.10982705
文献链接: https://ieeexplore.ieee.org/document/10982705/
其他信息:
出版社: IEEE
作者: F. Stampfl; C. Godfrin; S. Kubicek; S. Baudot; B. Raes; K. De Greve; A. Grill; M. Waltl

