Cationic compositional effects on the bias-stress stabilities of thin film transistors using In–Ga–Zn–O channels prepared by atomic layer deposition
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DOI: 10.1039/c9tc01164a
文献链接: https://xlink.rsc.org/?DOI=C9TC01164A
其他信息:
出版社: Royal Society of Chemistry (RSC)
作者: Seung-Bo Ko; Nak-Jin Seong; Kyujeong Choi; So-Jung Yoon; Se-Na Choi; Sung-Min Yoon

